NEC infrared thermal imager, PCB acceleration sensor, high pixel infrared imager, dynamic data acquisition instrument, woodworking laboratory, PCB sensor, wire rope detector, handheld XRF spectrometer, infrared detection service, wire rope nondestructive testing, wire rope flaw detection service, wire rope lubricator, MIKRON blackbody calibration source, IMPAC infrared thermometer.
- American Piezoelectric PCB Sensor
- Data acquisition instrument
- stress-strain measurement
- infrared thermal imager
- Handheld XRF Spectrometer
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- 高校創意木工坊
- Wire rope detector
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Opterro光纖測量系統
日立X-MET8000 Smart手持式XRF光譜儀 手持式熒光光譜儀
日立X-MET8000 Smart
手持式XRF光譜儀(HHXRF)提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準確化學結構分析所需的性能。日立X-MET8000 Smart手持式光譜儀方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結果。日立X-MET8000 Smart手持式XRF光譜儀提供極好的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準確可靠結果。通過靈活的基本參數法(FP)法進行分析，從而測試多種材料；或若需結果可追溯和高度準確，則使用實證校準。
優異性能
通過靈活的基本參數法(FP)法進行分析，從而測試多種材料；或若需結果可追溯和高度準確，則使用實證校準。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。
符合人體工學
X-MET8000輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，而疲勞度*低。
堅固耐用而擁有成本低
符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內外使用。
通過MIL-STD-810G**耐用標準測試。
其可選的防扎窗口膜可預防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現的高昂維修費用。
上等數據管理
完全靈活：可將多達100,000條結果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或個人計算機，或自動將X-MET數據存儲在LiveData云端。
X-MET8000 Smart
X射線管：40kV
濾光片：單一
檢測器：大面積 SDD
上限樣本溫度：400oC
符合 IP54 等級
Thick Kapton?窗口：保護以預防探測器的窗戶損壞
校準：基本參數法(FP)
內置攝像頭 （可選）
X射線管：40kV
濾光片：單一
檢測器：大面積 SDD
上限樣本溫度：400oC
符合 IP54 等級
Thick Kapton?窗口：保護以預防探測器的窗戶損壞
校準：基本參數法(FP)
內置攝像頭 （可選）
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